测厚仪图片大全(电镀测厚仪 镀层测厚仪)

本文目录

1. tac镀层检测 ***
2. 艾涂层测厚仪f型和n型区别
3. 覆层测厚仪主要测什么

一、tac镀层检测 ***

1.割格法（Cross-CutTest）：将划有一定间距的直线割入涂层中，再用胶带粘取并撕离，评估割口处涂层的剥离程度。该 *** 适用于薄涂层或小面积涂层的检测。

2.拉伸法（Pull-OffTest）：将一个特制的圆盘或者夹具固定在镀层表面，然后施加逐渐增加的拉伸力，直到涂层被拉离基材。测量拉伸力的大小可以评估涂层的附着力。

3.刮削法（ScratchTest）：使用一个硬度已知的刮削工具在涂层表面划过一定长度的线段，观察刮痕的形态和涂层的剥离情况。该 *** 可以评估涂层对于不同强度的物理损伤的抵抗能力，但对于某些涂层可能不适用。

4.冲击法（ImpactTest）：使用一个标准化的冲击工具（如球形重物）对涂层进行冲击，观察涂层的裂纹、剥离情况和剥离面积。该 *** 可以评估涂层对于物理冲击的抵抗能力。

二、艾涂层测厚仪f型和n型区别

1、艾涂层测厚仪F型和N型的区别在于其适用范围和功能特点。F型测厚仪适用于测量金属和非金属涂层的厚度，具有高精度和广泛的应用领域。而N型测厚仪主要用于测量金属涂层的厚度，具有更高的测量精度和更强的抗干扰能力。

2、此外，F型测厚仪还具备数据存储、数据传输和多种测量模式等功能，而N型测厚仪则更注重测量的准确性和稳定性。根据具体需求和应用场景，选择适合的型号可以提高测量效果和工作效率。

三、覆层测厚仪主要测什么

覆层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。本仪器符合以下标准：GB/T4956─1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性 *** JB/T8393─1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG889─95《磁阻法测厚仪》。

低限分辨力：1?m（10um以下为0.1um）。

示值误差：一点校准（um）±[3%H1]。

两点校准（um）：±[（1～3）%H1]。

测量条件：zui小曲率半径（mm）凸1.5凹9。

基体zui小面积的直径（mm）：ф7。

温湿度：0~40℃，20%RH～90%RH。

统计功能：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、

工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）。

测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）上下限设置。

打印/连接计算机：可选配打印机/不能连接电脑。

标准片一套（50um100um200um500um1000um）。

本仪器采用了磁性测厚法，可无损伤地测量磁性金属基体上的非磁性覆盖层的厚度（如钢、铁、非奥氏体不锈钢基体上的铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆镀层）。基本工作原理是：当测头与覆盖层接触时。测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆层的厚度。

可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正：

具有两种测量方式地：连续测量方式（continue）和单次测量方式（single）;

具有两种工作方式：直接方式和成组方式；

具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；

设有五个统计量：平均值地（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO.）、标准偏差（S.DEV）；

具有打印功能，或打印测量值、统计值；

测量速度快：测量速度比其它TT系列快6倍；

精度高：简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上为数不多能达到A级的产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高；

稳定性：测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品；

功能、数据、操作、显示全部是中文。

市场上流通的涂层测厚仪功能都简单，就是只能测厚度值，所以开机基本上都可以直接使用，不需要设置。

测厚仪出厂的时候都附带基准片，基准片是用来标定的。当数值不准的时候要进行数据校准。

在测量之前先测附带的基准片，如果数值都准那就不需要再校准。不准的话就要进行校准，各个厂家测厚仪的校准步骤不一样，按其说明书步骤进行校准即可。

测量的时候，测厚仪的探头要放平，放平测量才能得到精确的数值。

铁门的涂层厚度值。覆层测厚仪功能上采用了磁性测厚 *** ，可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆盖层的厚度（如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）。